No disponible en español

Estado : Publicado (En proceso de revisión)

Formato Idioma
PDF + ePub
Papel
  • CHF129
Convertir Franco suizo (CHF) a tu moneda

Resumen

ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.

Standard first page

Preview 

Previsualice esta norma en nuestra Plataforma de navegación en línea (OBP)

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2014-04
    Etapa
    : Cierre de la revisión [90.60]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 20
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 1
    ICS :
    37.020  01.040.37 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Got a question?

Check out our FAQs

Customer care
+41 22 749 08 88

Opening hours:
Monday to Friday - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. TC
  5. ISO/TC 202/SC 1
  6. ISO 22493:2014