ISO 25178-73:2019

Résumé

Le présent document traite des défauts géométriques pouvant être présents sur les surfaces des mesures matérialisées et des échantillons d'étalonnage conformes à l'ISO 5436-1 et à l'ISO 25178-70 et définit les termes désignant les manières de répondre à ces défauts.

Le présent document est applicable comme suit:

a) pour aider les clients et les utilisateurs de mesures matérialisées en métrologie de surface à spécifier leurs éléments nominaux (propriétés géométriques idéales) en cas d'obtention de ces mesures auprès des fabricants et des fournisseurs;

b) pour permettre aux utilisateurs de mesures matérialisées de formuler leurs propres règles et politiques pour répondre à l'occurrence de défauts de manière à réduire le plus possible l'incertitude de leurs propres mesurages;

NOTE Ces politiques sont par exemple requises dans l'ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 et 7.8.5 c) et d).

c) pour permettre aux laboratoires d'étalonnage et à leurs clients de convenir d'une politique commune sur la manière de traiter les défauts présents sur une mesure matérialisée ayant été envoyée en vue d'être étalonnée;

d) pour former les utilisateurs de mesures matérialisées à la signification et à l'importance variable des différents types de défauts;

e) pour les autres normes GPS qui font référence à la question du choix des emplacements de mesure ou du choix des zones à mesurer ou des zones à éviter lors du mesurage.

Informations générales

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2019-05
Edition
: 1

Nombre de pages
: 7
Comité technique
: ISO/TC 213 Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques des produits
ICS
:
01.040.17 Métrologie et mesurage. Phénomènes physiques (Vocabulaires)

17.040.40 Spécification géométrique des produits (GPS)