Утвержденный рабочий проект
ISO/AWI 13067
Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size
Ссылочный номер
ISO/AWI 13067
Версия 3
© ISO 2024
Утвержденный рабочий проект
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.
Текущее издание: ISO 13067:2020

Тезис

This document describes procedures for measuring average grain size derived from a two-dimensional polished cross-section using electron backscatter diffraction (EBSD). This requires the measurement of orientation, misorientation and pattern quality factor as a function of position in the crystalline specimen[1]. The measurements in this document are made on two dimensional sections. The reader should note carefully the definitions used (3.3) which draw a distinction between the measured sectional grain sizes, and the mean grain size which can be derived from them that relates to the three dimensional grain size.

NOTE 1 While conventional methods for grain size determination using optical microscopy are well-established, EBSD methods offer a number of advantages over these techniques, including increased spatial resolution and quantitative description of the orientation of the grains.

NOTE 2 The method also lends itself to the measurement of the grain size of complex materials, for example those with a significant duplex content.

NOTE 3 The reader is warned to interpret the results with care when attempting to investigate specimens with high levels of deformation.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
  • Версия
     : 3
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. ISO/AWI 13067