Тезис
ISO 19606:2017 describes a method to evaluate the adequateness of a probe tip for fine-ceramic thin-film surface roughness measurements by atomic force microscopy, of surfaces with an arithmetical mean roughness, Ra, in the range of about 1 nm to 30 nm and a mean width of roughness profile elements, RSm, in the range of about 0,04 μm to 2,5 μm.
Общая информация
-
Текущий статус: В стадии разработкиДата публикации: 2024-11Этап: Подготовка международного стандарта к публикации [60.00]
-
Версия: 2
-
Технический комитет :ISO/TC 206ICS :81.060.30
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Ранее
ОпубликованоISO 19606:2017
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00