Reference number
ISO/TR 15969:2021
© ISO 2025
Technical Report
ISO/TR 15969:2021
Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth
Edition 2
2021-03
Technical Report
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2021)

ISO/TR 15969:2021

Язык
Формат
CHF 98
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document provides guidelines for measuring the sputtered depth in sputtered depth profiling. 

The methods of sputtered depth measurement described in this document are applicable to techniques of surface chemical analysis when used in combination with ion bombardment for the removal of a part of a solid sample to a typical sputtered depth of up to several micrometres. The depth typically determined by this approach is between 1 nm to 500 µm.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2021-03
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 4
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

7
Недорогостоящая и чистая энергия
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Интернет-магазин
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO/TR 15969:2021