Reference number
ISO 24688:2022
© ISO 2025
International Standard
ISO 24688:2022
Determination of modulation period of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods
Edition 1
2022-07
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2022)

ISO 24688:2022

Язык
Формат
CHF 65
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies the substrate conditions and testing of the modulation period (including the principles for low-angle X-ray methods, the requirements of the coatings, the requirements for X-ray measuring apparatus, the calibration of apparatus and samples, and the testing conditions and calculation process) of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods including X-ray reflectivity (XRR) and glancing incident X-ray diffraction (GIXRD).

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2022-07
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 107/SC 9
    ICS :
    25.220.01 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Интернет-магазин
  4. ТК
  5. ISO/TC 107/SC 9
  6. ISO 24688:2022