недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document presents a list of common practices in preparation methods of metallographic specimens for optical and scanning electron microscopy, including preliminary preparation, grinding and polishing of specimens as well as microstructure revelation methods covering the optical method, etching methods (chemical, electrolytic, constant potential, ion sputtering and high temperature relieving) and the interface layer method [1][2].

Standard first page

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2022-07
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 17/SC 7
    ICS :
    77.080.20 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 17/SC 7
  6. ISO/TR 20580:2022