Reference number
ISO 16700:2016
© ISO 2024
International Standard
ISO 16700:2016
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Edition 2
2016-08
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2016)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2023. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 16700:2016

Язык
Формат
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2016-08
    Этап
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 4
    ICS :
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 16700:2016