ISO/TR 24119:2015
p
ISO/TR 24119:2015
63160
недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано

ru
Формат Язык
std 1 129 PDF
std 2 129 Бумажный
  • CHF129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO/TR 24119:2015 illustrates and explains principles of fault masking in applications where multiple interlocking devices with potential free contacts (B1 to Bn) are connected in series to one logic unit (K) which does the diagnostics (see Figures 1 to 7). It further provides a guide how to estimate the probability of fault masking and the maximum DC for the involved interlocking devices. This Technical Report only covers interlocking devices in which both channels are physical serial connections.

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2015-11
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 199
    13.110 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)