Ссылочный номер
ISO 22493:2008
© ISO 2024
ISO 22493:2008
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
Версия 1
2008-10
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2008)

Тезис

ISO 22493:2008 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

The vocabulary is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of the vocabulary are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2008-10
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 1
    ICS :
    37.020  01.040.37 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 22493:2008