Текущий статус : Отозвано

Это стандарт пересмотренISO 14997:2011

Тезис

ISO 14997:2003 establishes the physical principles and practical means for the implementation of two methods, specified in ISO 10110-7, for measuring surface imperfections. These methods are: Method l, the surface area obscured or affected by the defects, and, Method ll, the visibility of the imperfections.

Both methods are suitable for prototype, small scale or large scale production of a wide variety of optical components. Imperfection appearance or functional tolerances related to a particular component can be determined by agreement between supplier and customer.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2003-04
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 172/SC 1
    ICS :
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 14997:2003