Résumé
Le présent document spécifie une méthode de mesurages non destructifs de l’épaisseur des revêtements conducteurs sur des matériaux de base non conducteurs. Cette méthode repose sur le principe du mesurage de la résistivité d’une plaque et elle est applicable à tous les revêtements conducteurs et couches de métaux et de matériaux semi-conducteurs. En général, le palpeur doit être ajusté à la conductivité et à l’épaisseur de l’application correspondante. Toutefois, le présent document est centré sur les revêtements métalliques appliqués sur des matériaux de base non conducteurs (par exemple, cuivre sur substrats en plastique, cartes de circuits imprimés).
Cette méthode est aussi applicable aux mesurages d’épaisseur des revêtements conducteurs sur des matériaux de base conducteurs, si la résistivité du revêtement et celle du matériau de base sont nettement différentes. Cependant, ce cas n’est pas traité dans le présent document.
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Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2020-11Stade: Norme internationale publiée [60.60]
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Edition: 1Nombre de pages: 10
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Comité technique :ISO/TC 107ICS :25.220.40
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