ISO 22493:2008
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire
Numéro de référence
ISO 22493:2008
Edition 1
2008-10
Annulée
ISO 22493:2008
40975
Annulée (Edition 1, 2008)

Résumé

L'ISO 22493:2008 définit les termes utilisés dans les applications de la microscopie électronique à balayage (MEB). Elle couvre des concepts généraux et des concepts spécifiques, hiérarchisés selon un ordre systématique, et inclut les termes déjà définis dans l'ISO 23833, le cas échéant.

L'ISO 22493:2008 s'applique à tous les documents de normalisation relatifs à la pratique de la MEB. Certains articles du vocabulaire s'appliquent également aux documents relevant de domaines apparentés (par exemple l'EPMA, la MEA, l'EDS) pour la définition des termes qui sont pertinents dans ces domaines.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 2008-10
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 22
  • ISO/TC 202/SC 1
    37.020  01.040.37 
  • RSS mises à jour

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