Numéro de référence
ISO 12179:2000
ISO 12179:2000
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil — Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Edition 1
2000-03
Annulée
ISO 12179:2000
21119
Annulée (Edition 1, 2000)

Résumé

La présente Norme internationale s'applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) destinés au mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme défini dans l'ISO 3274. L'étalonnage est à effectuer avec des étalons de mesure.L'annexe B s'applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques d'instruments à contact (palpeur) simplifiés qui ne sont pas en conformité avec l'ISO 3274.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 2000-03
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 17
  • ISO/TC 213
    17.040.30 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Vous avez une question?

Consulter notre Aide et assistance